摘要: 通过自制的铝电解电容器模型,利用氧化铝薄膜具有的介电性能,通过电容量法可以准确快捷地计算氧化膜的厚度,并通过显微直接观察法、电解电量法、伏安法进行了验证。得到如下结论:所用铝条样品天然氧化膜的厚度约为8.0 nm;在H3PO4溶液中形成的氧化膜厚度随氧化时间变化为50~80 nm;阻档层生成率1.219。
关键词: 电子技术;阳极氧化铝;氧化膜;介电性能;厚度
中图分类号: O646.6 文献标识码:A 文章编号:1001-2028(2005)12-0064-03
(1. Collega of Materials Science and Engineering,
Key words: electronic technology; anodic aluminum oxide (AAO);oxide film;dielectric property;thickness
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2024-05-20全国
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